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电性故障分析

I-V特性检测
      芯愿景公司可提供电子元器件的电压、电流和电感值,以及电流-电压、电容-电压特性曲线的测量。

 

 
EMMI检测
       半导体元件有过量电子-空穴产生时,会因为电子和空穴的中和而产生红光,此红光可被光子显微镜(EMMI)检测到。当元器件因栅氧崩溃、静电放电破坏、闩锁效应等原因产生过量的电子和空穴,电子和空穴对消发光可被EMMI侦测,因而可定位故障位置。

 

 

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