首页 首页  简体中文   

站内搜索: 资讯 职位 下载

教育培训

电 话:010-82894101/02/05 

             010-62901860    

传 真:010-82893201 

邮 件:juvanj.com qjgjs.cn

您现在的位置:首页

电性故障分析

I-V特性检测
      大发888互聯網可提供电子元器件的电压、电流和电感值,以及电流-电压、电容-电压特性曲线的测量。

 

 
EMMI检测
       半导体元件有过量电子-空穴产生时,会因为电子和空穴的中和而产生红光,此红光可被光子显微镜(EMMI)检测到。当元器件因栅氧崩溃、静电放电破坏、闩锁效应等原因产生过量的电子和空穴,电子和空穴对消发光可被EMMI侦测,因而可定位故障位置。

 

 

下载附件

没有相关信息

   Copyright © 2002-2016 北京大发888软件技术有限AI  北京市海淀区高里掌路中关村翠湖科技园云中心1号院2号楼  京ICP备06056325号

 

电话:010-82894101/02/05  邮箱:juvanj.com qjgjs.cn  QQ:897457156  微信:Cellixsoft